Ｘ射线衍射仪可在大气中无损分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且，可通过峰面积计算进行定量分析。
可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密Ｘ射线结构解析等各种分析。

垂直型测角仪

配备高精度垂直型测角仪，适用于粉末、薄膜、难于固定的样品、易溶样品等各种样品的测定。

• XRD-6000具有本质安全结构。
• 只有门连锁机构闭锁时，X射线管才能开启，具备高安全性。
• 配备高速运转（1000°/min）及高精度角度重现性（±0.0001°）的垂直型测角仪，可进行各种样品的测定。
• 驱动机构为独立2轴驱动，可选择θ-2θ联动或θ、2θ轴独立驱动，特别对薄膜测定行之有效。
• 备有丰富的附件（软件/硬件）来满足多种需要。

  对应工业环境测定标准/工业环境评价标准修订 X射线衍射仪XRD-6000 环境测定包 (详情请点击) 适合工业环境中的游离硅及石棉的定性/定量分析。

高精度样品水平型测角仪S

配备具有0.0001°最小步进的高精度样品水平型测角仪。根据分析目的，可以选择适合分析大型样品的Ｌ型（最大350mmφ样品）和通用的S型。

XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪，能够测定超大型样品。

不但可进行定性/定量等基本分析，还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体

粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件，还可以应用于应力测

     定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。

 

利用新开发的大型R-θ样品台，可以进行最大350mmφ样品全表面的自动应力成图测定。

使用XRD-7000进行的刹车盘应力成图分析实例                             (详情请点击)